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亥姆霍茲線圈按磁場方向分類及應(yīng)用領(lǐng)域
亥姆霍茲線圈按磁場方向分類及應(yīng)用領(lǐng)域

磁場線圈基于畢奧-薩法爾定律,以繞組中通電流的形式復(fù)現(xiàn)磁場的線圈,用于復(fù)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)磁場,是弱磁場計(jì)量測試領(lǐng)域最主要的標(biāo)準(zhǔn)器具之一。按所復(fù)現(xiàn)的磁場類型可分為恒定磁場線圈、交變磁場線圈、梯度磁場線圈、脈沖磁場線圈等,按結(jié)構(gòu)可分為螺線管線圈、亥姆霍茲線圈及其他各種組合磁場線圈等,按磁場方向...

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2024

8.22
  • 亥姆霍茲線圈的組成

    亥姆霍茲線圈是由兩個(gè)半徑、匝數(shù)、電流★全相同的線圈,距離為半徑長度,運(yùn)行電流方向相同組成。亥姆霍茲線圈是一種產(chǎn)生均勻磁場的線圈,其磁場特點(diǎn)是在內(nèi)部產(chǎn)生均勻度較高的磁場,一般長螺線管的均勻度要優(yōu)于赫姆霍茲線圈,但對兩者都可以加補(bǔ)償線圈來得到很高的均勻度。具體介紹亥姆霍茲線圈是一種由兩個(gè)等半徑的同軸線圈組成的電磁螺旋體。兩個(gè)線圈中心之間的距離等于線圈半徑,因此亥姆霍茲線圈被廣泛應(yīng)用于磁場探測器、電子束和帶電粒子的聚焦、定向等方面。亥姆霍茲線圈是由兩個(gè)同軸的圓形線圈構(gòu)成的,它們的中...

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    2023

    11.27
  • 亥姆霍茲線圈磁場特點(diǎn)

    亥姆霍茲線圈是一種由兩個(gè)平行的同軸線圈組成的電磁裝置,它的電流方向相反,且它們的半徑相等,距離也相等。亥姆霍茲線圈的磁場特點(diǎn)主要有以下幾個(gè)方面:1、磁場均勻性高:亥姆霍茲線圈的磁場均勻性非常高,因?yàn)閮蓚€(gè)線圈的電流方向相反,它們的磁場方向也相反,從而使得兩個(gè)線圈的磁場疊加后,磁場方向始終保持一致,磁場強(qiáng)度也非常均勻。2、磁場方向穩(wěn)定:亥姆霍茲線圈的磁場方向非常穩(wěn)定,因?yàn)閮蓚€(gè)線圈的電流方向相反,它們的磁場方向也相反,從而使得兩個(gè)線圈的磁場疊加后,磁場方向始終保持一致。3、磁場強(qiáng)度...

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    2023

    11.27
  • 探針臺的應(yīng)用領(lǐng)域

    探針臺(ProbeStation)是一種用于對半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測試的重要設(shè)備。它通常由精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導(dǎo)體芯片、集成電路和其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測試,從而為研究和生產(chǎn)提供有價(jià)值的信息。探針臺在半導(dǎo)體行業(yè)的研究和生產(chǎn)中發(fā)揮著重要作用。主要應(yīng)用領(lǐng)域包括:半導(dǎo)體器件開發(fā):在新型半導(dǎo)體器件的研發(fā)過程中,需要對其電性能進(jìn)行多次測試,以優(yōu)化器件結(jié)構(gòu)和工藝參數(shù)。探針臺提供了快速、準(zhǔn)確的電性能測試手段,有助于研究人員了解器件性能...

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    2023

    11.23
  • 晶圓測試技術(shù)

    晶圓探針測試也被稱為中間測試(中測),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費(fèi)用。這步測試是晶圓生產(chǎn)過程的成績單,它不僅是節(jié)約芯片封裝成本的一種方法,現(xiàn)今已成為工藝控制、成品率管理、產(chǎn)品質(zhì)量以及降低總測試成本的一個(gè)關(guān)鍵因素。晶圓探針測試主要設(shè)備有探針測試臺,探針測試機(jī),探針測試卡三部分,全部由測試系統(tǒng)應(yīng)用測試程序來執(zhí)行測試。探針測試臺可分為手動(dòng)、半自動(dòng)/全自動(dòng)探針臺,主要負(fù)責(zé)探針測試卡的探針和晶圓上的每個(gè)晶粒上...

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    2023

    11.23
  • 芯片的測試方法

    半導(dǎo)體的生產(chǎn)流程包括晶圓制造和封裝測試,在這兩個(gè)環(huán)節(jié)中分別需要完成晶圓檢測(CP,CircuitProbing)和成品測試(FT,FinalTest)。無論哪個(gè)環(huán)節(jié),要測試芯片的各項(xiàng)功能指標(biāo)均須完成兩個(gè)步驟:一是將芯片的引腳與測試機(jī)的功能模塊連接起來,二是通過測試機(jī)對芯片施加輸入信號,并檢測輸出信號,判斷芯片功能和性能是否達(dá)到設(shè)計(jì)要求。CP測試在整個(gè)芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝之間,測試對象是針對整片晶圓(Wafer)中的每一個(gè)Die,目的是確保整片(Wafer)中的每一...

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    2023

    11.23
  • 閉合回路在均勻磁場中的變化

    設(shè)有一均勻磁場,磁力線方向垂直向下,開始時(shí)閉合回路僅有一部分處于磁場中,然后將回路向左移動(dòng),回路中就有感生電流,將回路中出現(xiàn)相反的感生電流。如改用一個(gè)非常小的閉合回路在磁場內(nèi)移動(dòng),并使它在整個(gè)運(yùn)動(dòng)過程中不離開磁場的均勻區(qū)域,這時(shí)在此線圈并無感生電流產(chǎn)生。假如使閉合回路繞垂直于磁場的軸線轉(zhuǎn)動(dòng),回路中也有感生電流產(chǎn)生,其方向與轉(zhuǎn)動(dòng)情況有關(guān)。事實(shí)說明,回路中感生電流與穿過回路的磁場的變化有關(guān)。

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    2023

    11.20
  • 真空環(huán)境的獲得方式

    真空環(huán)境是很多精密設(shè)備運(yùn)轉(zhuǎn)的前提條件,由于目前自然真空的利用十分困難,因此一般通過真空泵獲取真空環(huán)境。用來獲得、改善、維持真空的裝置稱為真空泵。一般來說,為了獲得高真空、超高真空及ji高真空,有時(shí)還要采用多臺真空泵構(gòu)成機(jī)組來完成抽氣任務(wù)。因此,了解各種真空泵的工作原理、主要性能、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)等,對于正確選擇經(jīng)濟(jì)適用的真空泵是非常重要的。zui常用的真空泵就是機(jī)械泵,它通過轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn),將空氣從吸氣口吸入,然后從出氣口排出。機(jī)械泵能夠達(dá)到的真空度大概為1Pa。但是這樣的真空度還遠(yuǎn)遠(yuǎn)達(dá)不...

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    2023

    11.20
  • 影響真空環(huán)境的因素

    真空環(huán)境的獲得比較困難,尤其是超高真空環(huán)境,其中主要的影響因素有以下幾點(diǎn):1.部件生產(chǎn)過程中,其表面不可避免的會(huì)附著金屬碎屑和灰塵,因此在進(jìn)行抽空作業(yè)前,必須對部件表面進(jìn)行清潔,以保證環(huán)境盡快達(dá)到所需要求。2.在溫度和壓力的作用下,所有物質(zhì)都可以通過冷凝和蒸發(fā)在固液氣三種狀態(tài)下變化,因此物質(zhì)的聚集狀態(tài)對真空環(huán)境的影響巨大。3.吸附在部件表面的氣體在真空環(huán)境下會(huì)被解吸,之后逸到真空環(huán)境中,影響真空系統(tǒng)、另外真空系統(tǒng)通常由不同的密封件連接在一起,由于密封質(zhì)量的不同,因此整體的漏率...

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    2023

    11.20
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