FCP磁場控制平臺(tái)

錦正茂實(shí)驗(yàn)室儀器儀表FCP磁場控制平臺(tái)產(chǎn)品概述：

FCP磁場控制平臺(tái)是根據(jù)磁控原理設(shè)計(jì)的理想磁測量系統(tǒng)，磁場范圍超過3T，利用TESTIK475高斯計(jì)穩(wěn)定磁場控制，適合各系列電磁鐵配置，連續(xù)可變的電磁氣隙，實(shí)心的和光學(xué)入口極帽，線型雙極，真實(shí)四象限電磁鐵電源。

錦正茂實(shí)驗(yàn)室儀器儀表FCP磁場控制平臺(tái)控制特征：

TESTIK475型高斯計(jì)努力保持確切的磁場密度，用戶輸入的控制設(shè)定點(diǎn)，用G、T、Oe、A/m來表示。為了這北京錦正茂的電磁鐵磁場控制平臺(tái)集成了硬件和控制部件來形成一個(gè)變化的磁場平臺(tái)，可以被獨(dú)立的被利用或做為用戶設(shè)計(jì)的測量系統(tǒng)的一個(gè)基礎(chǔ)。

※ 磁場控制平臺(tái)包括錦正茂公司的電磁鐵、雙極電源、具有控制能力的DSP技術(shù)的高斯計(jì)、霍爾探頭及支架等。 錦正茂提供的磁場控制平臺(tái)具有不同的配制用來滿足在磁場強(qiáng)度、磁場均勻性、樣品尺寸、自定義測量要求等基礎(chǔ)之上的用戶要求。可以獨(dú)立的形成用戶所需要的不同磁場強(qiáng)度的可變磁場。廣泛用于磁光測量系統(tǒng)、VSM測量系統(tǒng)、在線退火、霍爾效應(yīng)、磁化率測量、自旋磁共振、B-H曲線測量和的傳感器校準(zhǔn)等領(lǐng)域。

樣做，475高斯計(jì)從高斯計(jì)霍爾探頭得到反饋來計(jì)算并調(diào)整控制（模擬）輸出。為了更大程度實(shí)現(xiàn)控制的穩(wěn)定性，475型高斯計(jì)每33毫秒更新模擬輸出。結(jié)果是一個(gè)內(nèi)置的PI 控制器提供了峰值-到-峰值的0.5 G*的磁場穩(wěn)定性。

※ 當(dāng)設(shè)定點(diǎn)速率激活的時(shí)候，儀器會(huì)開始從當(dāng)前磁場讀數(shù)加速而不是當(dāng)前設(shè)定點(diǎn)，基于對(duì)P和I的設(shè)定。另外，475高斯計(jì)能設(shè)定速率來控制設(shè)定點(diǎn)，從當(dāng)前磁場讀數(shù)到一個(gè)新的值，使用一個(gè)磁場中平滑線性變換而不是瞬態(tài)特性的PI控制。

※ 開環(huán)磁場控制也可能用手動(dòng)輸出來使用475模擬輸出，這意味著忽視了反饋并且模擬輸出停留在手動(dòng)用戶調(diào)整。這個(gè)方法使磁體電源操作處于恒定電流模式。

※ 475也包含了用戶可設(shè)定的控制斜率限制和模擬輸出電壓限制。這些軟件限制保證了磁體電源如果磁場控制系統(tǒng)遭到不合適的調(diào)整或開始擺動(dòng)而不會(huì)損壞。

FCP磁場控制平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)配置：

TESTIK475有1個(gè)計(jì)算機(jī)接口：RS-232串口:。這個(gè)接口可以設(shè)置所有儀器參數(shù)和測量值得讀回。在磁場控制期間，接口的讀數(shù)率是額定每秒30個(gè)讀數(shù)。475的LabVIEW驅(qū)動(dòng)是提供的（選配）。磁場控制平臺(tái)不含應(yīng)用軟件。

注：產(chǎn)品為定制，不同規(guī)格價(jià)位不同，實(shí)際價(jià)格已溝通為準(zhǔn)！