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變溫霍爾測(cè)量系統(tǒng)技術(shù)指導(dǎo)

更新時(shí)間:2023-01-30 點(diǎn)擊量:707


產(chǎn)品概述:

本儀器系統(tǒng)由:電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計(jì)、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、高低溫杜瓦,控溫儀,系統(tǒng)軟件。為本儀器系統(tǒng)專門研制的JH10 效應(yīng)儀將恒流源,六位半微伏表及霍爾測(cè)量復(fù)雜的切換繼電器——開關(guān)組裝成一體,大大減化了實(shí)驗(yàn)的連線與操作。JH10 可單獨(dú)做恒流源、微伏表使用。用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù),而這些參數(shù)是了解半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必須預(yù)先掌控的,因此霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性*的工具。 實(shí)驗(yàn)結(jié)果由軟件自動(dòng)計(jì)算得到,可同時(shí)得到體載流子濃度(Bulk Carrier oncentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(shù)(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等。

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可測(cè)試材料: ?

半導(dǎo)體材料:SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等;

低阻抗材料:石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料等;

高阻抗材料:半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等。

技術(shù)指標(biāo)。

*  磁 場(chǎng):10mm 間距為 2T 30mm 間距為 1T

*  樣品電流:0.05uA~50mA(調(diào)節(jié) 0.1nA)

*  測(cè)量電壓:0.1uV~30V

*  提供各類測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)材料,各級(jí)別硅與砷化鎵(靈敏度與精度不同)

*  小分辨率:0.1GS

*  磁場(chǎng)范圍:0-1T

* 配合高斯計(jì)或數(shù)采板可計(jì)算機(jī)通訊

* I-V 曲線及 I-R 曲線測(cè)量等

*  霍爾系數(shù)、載流子濃度等參數(shù)隨溫度的變化曲線

* 電阻率范圍:10-7~1012 Ohm*cm

*  電阻范圍:10 m Ohms~ 6MOhms

*  載流子濃度:103~1023cm-3

*  遷移率:0.1~108cm2/volt*sec

*  溫度調(diào)節(jié) 0.1K

*  溫區(qū):77K-470K

*  測(cè)試全自動(dòng)化,一鍵處理

*  可實(shí)現(xiàn)相同溫差間的連續(xù)測(cè)量

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